超聲電聲法Zeta電位儀是根據(jù)多普勒效應設計的
更新時間：2024-01-03 點擊次數(shù)：553
超聲電聲法Zeta電位儀是通過超聲電聲法測量流體中顆粒電荷特性的儀器。其原理基于顆粒在電場中的運動行為和聲學效應。需要將待測流體樣品注入到一個透明的測量池中，并施加一個外部電場。在電場中，帶電的顆粒會受到電場力的作用，產(chǎn)生向陽極或陰極方向的移動。當顆粒在電場力和液體阻力之間達到平衡時，顆粒的速度變?yōu)楹愣ㄖ担藭r稱為顆粒的移動速度。
在測量池中，超聲電聲法Zeta電位儀通過超聲發(fā)射器發(fā)出一束聲波，這個聲波向測量池中的液體中傳播。當聲波遇到移動的顆粒時，顆粒會反射一部分聲波。Zeta電位儀的接收器會接收到這些反射聲波，并分析它們的特性。
根據(jù)多普勒效應，當顆粒朝向聲源移動時，反射聲波的頻率會比發(fā)射聲波的頻率高，而當顆粒遠離聲源移動時，反射聲波的頻率則會比發(fā)射聲波的頻率低。通過測量反射聲波的頻率偏移量，可以計算出顆粒的移動速度。
在測量時，Zeta電位儀還會改變外部電場的電壓，并記錄下顆粒移動速度的變化情況。通過對不同電壓下顆粒移動速度的分析，可以得到顆粒在電場中所受到的力的大小，從而計算出顆粒的電荷量。根據(jù)電荷量和顆粒的大小，可以計算出顆粒的Zeta電位。Zeta電位是一個表征流體中顆粒電荷特性的參數(shù)，它可以用來描述顆粒的穩(wěn)定性、聚集性和分散性等性質(zhì)。
超聲電聲法Zeta電位儀的應用：
1.用于研究和分析顆粒的表面電荷分布情況，從而了解顆粒的表面性質(zhì)和穩(wěn)定性。
2.通過測量顆粒的電位，可以了解材料中顆粒的分散狀態(tài)和電荷狀況，為材料的表征和質(zhì)量控制提供依據(jù)。
3.用于測量藥物納米粒子的表面電位，研究藥物納米粒子的穩(wěn)定性和藥效。
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